Seminare

Eureca veranstaltet regelmäßig Seminare zu optoelektronischen Bauteilen, die ein elementarer Bestandteil einer Vielzahl von Anwendungen sind. In den Seminaren, die sich an Entwickler und Anwender richten, werden die Eigenschaften und Grenzen der Bauteile aufgezeigt. Des Weiteren wird auf die Beurteilung wichtiger Sensoreigenschaften und deren Messmethoden eingegangen.

Aber auch für Einkäufer und Vertriebsmitarbeiter sind die Inhalte durchaus von Interesse, um im täglichen Umgang mit diesen sehr spezialisierten und hochentwickelten Bauteilen wichtige Fachbegriffe und Arbeitsweisen richtig anwenden zu können.

Basisseminar

Das Basisseminar erläutert tiefgehend im Detail den Aufbau, die Funktion und die hieraus resultierenden Eigenschaften von CCD- und CMOS-Sensoren. Es werden Unterschiede in den Architekturen und die physikalischen Grenzen aufgezeigt. Zudem werden Messmethoden zur Charakterisierung von Bildsensoren behandelt.

• Entstehung von Bändern in Halbleitern
• Aufbau von Photodioden und Pixeln
• Ladungstransfer zwischen einzelnen Pixel
• Standard CCD-Sensor
• Full Frame Sensor, Interline-Sensor
• Back-Side-Thinning und Lumogen-Beschichtung
• Blooming, Smearing
• CMOS-Bildsensoren
• Rauschquellen (Fixed-Pattern-Noise, Ausleserauschen, KTC-Rauschen, 1/f-Rauschen, Schrot-Rauschen)
• Photon Transfer
• Dynamik, Signal-Rausch-Verhältnis, Auflösung

Aufbauseminar

Das Aufbauseminar baut auf unserem Basisseminar auf und behandelt weitergehende Themen, die beim Einsatz von CCD-/CMOS-Bildsensoren zu beachten sind. Nach einer kurzen Wiederauffrischung bzw. Wiederholung der Themen aus dem Basisseminar folgen die unten aufgeführten Schwerpunkte. Abgeschlossen wird das Seminar mit einer offenen Diskussion zu den besprochenen Themen und Ihren Fragen.

• Rauschen von Bildsensoren (temporale Rauschquellen und deren Eigenschaften inkl. Beispielbildern und -videos)
  • Rauscharten (Johnson-, Auslese, Schrot-, KTC-Rauschen)
  • Dunkelstrom und hieraus resultierendes temporales Rauschen
  • 1/f-Rauschen und Fixed-Pattern-Noise, inkl. Beispielbilder und -videos
  • Offset, Gain, Linearität
  • Dunkelstrom
• Korrekturen (Messung des Fixed-Pattern-Noise sowie Erkennung im Photon Transfer)
  • Erkennung durch FFT, Vorbereitung der Messwerte und Abschätzung der Genauigkeit
  • Korrekturen (Zwei-Punkt, stückweise linear, polynomisch)
  • weitere Bildartefakte inkl. Beispielbilder und -videos
  • Digitalisierungsrauschen, Moire, Bayer Pattern
  • temporale und räumliche Tiefpässe
  • White-Noise-Dithering inkl. Beispielbilder und -videos
  • optimales Verhältnis von Read Noise zur Digitalisierungstiefe
  • Maßnahmen bei der Reduktion der Digitalisierungstiefe
  • Beispiele für den Informationsgewinn
• Dynamikbereich (High Dynamic Range)
  • Definitionen
  • Intra- und Interscene
  • Methoden der Realisierung
  • Probleme und Artefakte
• Vergleich von Spezifikationen (Parameter)
  • Welche Parameter sind universell zum Vergleich von Sensoren bzw. Kameras geeignet? (Welche üblichen Probleme und Fallen gibt es?)
  • Datenblattinterpretation
  • Wie extrahiert man universelle Parameter, die nicht explizit genannt sind?